首先，在光缆敷设时，容易出现大衰耗点。这是因为敷设过程中，由于穿越障碍物、人员协调困难等问题，导致光缆出现打背扣、死弯等现象，对光缆造成损伤。此外，光缆端头在接续时也容易受到损伤，形成较大的衰耗点。
其次，在光缆接续过程中，大衰耗点也经常出现。这是因为光纤制造过程中存在的差异性，导致OTDR测试的损耗值并不完全是接续点的实际损耗值。此外，光纤在收容时受到压力或弯曲半径过小，以及接头盒组装完成后固定不牢固等问题，都会导致大衰耗点的产生。
再者，光缆在运输和装卸过程中，也会出现大衰耗点。例如，在运输过程中，由于环境恶劣，特别是铁路通信光缆的敷设，吊车无法到达施工现场，需要通过人力装卸，这会增加光缆受损的风险。此外，部分厂家为了降低生产成本，采用较小的光缆盘，使得外层光缆离地面距离过近，容易受到损伤。
最后，在光缆成端过程中，大衰耗点的产生也不容忽视。由于成端时一般不进行熔接损耗监测，仅凭经验操作，导致产生大衰耗点的几率较高。此外，光纤在安装收容盘时，容易出现束管弯曲半径过小或拧转变形等问题，造成大衰耗点的产生。
为了有效防止大衰耗点的产生，我们需要从以下几个方面着手：
1. 加强对施工人员的技术培训，提高施工质量。
2. 在光缆接续、运输和装卸过程中，严格执行操作规程，减少人为因素导致的问题。
3. 选择合适的设备和材料，提高光缆线路的整体质量。
4. 定期对光缆线路进行巡检和维护，发现问题及时处理。
总之，在光缆线路施工过程中，关注大衰耗点的预防和处理，对于确保光缆线路的稳定性和可靠性具有重要意义。只有从细节入手，严格把控施工质量，才能保障光缆线路在今后的使用过程中，满足通信需求，为我国的通信事业做出贡献。
在光缆线路的施工中，光缆线路的衰耗指标是一项重要的考核指标，不但要考核施工完毕的光缆线路的光纤平均损耗系数，还要考核光缆线路光纤散射曲线，光缆线路的平均损耗系数和总损耗不但要符合设计要求，还要符合施工规范和验收标准的指标要求，而且要求光纤散射曲线比较均匀，曲线上不应出现较大的衰耗台阶，以保证光缆线路的光特性技术指标符合施工规范和验收标准的要求。
1．1 敷设时产生的大衰耗点
在光缆施工中，由于光缆敷设长度一般在２～３KM直埋敷设时，穿越的障碍物较多，在施工中，敷设人员较多，敷设距离较远，难以保证所有敷设人员协调行动，特别是通过障碍物较多时，如：穿越防护钢管，拐弯、上下坡等，从而出现俗称的光缆打背扣（出现死弯）现象，对光缆造成严重伤害。
一旦发生死弯现象，此处必然会出现一个大衰耗点，严重的会发生部分或全部光纤断裂现象，这是光缆 施工中容易出现的故障现象。此外，在敷设光缆时，光缆端头的光缆最容易受到损伤，在接续时，往往在接续点处显示有较大衰耗值，此时，即使多次重复熔接，也不能降低接续损耗值，从而形成一个较大的衰耗点。
1．2 接续过程中产生的大衰耗点
在光缆接续过程中，产生大衰耗点是经常发生的，我们一般用OTDR（光时域反射仪）进行监测，即每熔接一根光纤，都用OTDR测试一下熔接点的衰耗值，具体测试时，采用双向监测法，由于光纤制造过程中存在的差异性，两根光纤不可能完全一致，总是存在模场直径不一致现象，从而导致了用OTDR所测的损耗值并不是接续点的实际损耗值，其数值有正有负，一般用双向测试值的算术平均值作为实际衰耗值。在接续时，一般用实时监测法，基本能保证熔接损耗达到控制目标，但经常产生大损耗点的原因是在熔接完毕后进行光纤收容时，部分光纤受压或弯曲半径过小，即形成一个大衰耗点。
因为1550nm波长的光纤对微弯损耗非常敏感，光纤一旦受压，即产生一个微弯点，或盘纤时，弯曲半径过小，光纤信号在此处也产生较大的衰耗，表现在光纤后向散射曲线上，就形成了一个较大的衰耗台阶；
另外，一个比较容易忽视的原因是光缆接头盒组装完成后，固定接头盒和固定光缆时，由于光缆在接头盒内固定的不是很牢固，造成光缆拧转，使光纤束管变形，由于光纤受压，造成光纤衰耗值急剧增加，形成衰耗台阶。
1．3 运输和装卸造成的大衰耗点
在光缆运输到施工现场时，由于现场环境比较恶劣，特别是敷设铁路通信光缆时，吊车往往无法到达施工现场，此时，常常是通过人力装卸光缆，在光缆卸下的过程中，外层光缆经常受到损伤，原因是光缆盘直径过小，导致外层光缆离地面距离过近，由于现场地面土质软硬不一，崎岖不平，在滚动光缆盘的过程中，光缆盘陷入地面，导致外层光缆被地面硬物硌坏，主要原因是部分厂家为降低生产成本，采用较小的光缆盘。
此外，光缆盘未用木板进行包封（有些是铁架光缆盘，无法用木板进行包封），而仅用塑料布在光缆外层进行包裹，或者是单盘测试后，光缆盘包封未恢复，起不到应有的防护作用，当光缆外层被石头等硬物硌伤后，光纤在束管中受压，即产生一个衰耗台阶，表现在光纤后向散射曲线上，就形成一个较大的衰耗点。
1．4 成端过程中产生的大衰耗点
在光缆成端过程中，也经常会产生大衰耗点。在成端时，由于一般不进行熔接损耗监测，仅凭经验操作，因此，产生大衰耗点的几率也大增。
此外，在光纤熔接后安装收容盘时，往往造成收容盘附近 的光纤束管弯曲半径过小或造成光纤束管拧转变形，使光纤在此处产生一个较大的衰耗点，此类大衰耗点一般比较隐蔽，不像线路中间的大衰耗点用OTDR可以直接测出。
